单幅无载波牛顿环干涉条纹分析技术
一、成果简介
成果来自于国家自然科学基金创新研究群体、国家自然科学基金重点项目和国家自然科学基金面上项目。成果提出了针对单幅干涉条纹的分析技术，可对光学元件进行干涉测量，获取面型、瑕疵、曲率半径等物理参数。相关技术于2013年提出，利用现代信号处理和深度学习方法，直接通过单幅干涉条纹图即可提取出被测参数。相关技术在国内外均为首创，精度高且耗时短。相较其它技术而言，采用了现代信号处理和深度学习的先进技术手段进行单幅干涉条纹分析，解决了单幅闭合干涉条纹分析的难点，无需昂贵的光学硬件（诸如移相器）进行相移产生多幅干涉条纹，成本低廉。可用于干涉测量领域，测量光学元器件（眼镜、光纤连接器、手机透镜等），是应用面很广的基础技术。成果用于光纤端面干涉测量，经过第三方鉴定，具有和美国竞品相媲美的指标。成果用于教学，获得全国高等学校教师自制实验教学仪器设备创新大赛一等奖。
图1：光纤端面检测仪
图2：牛顿环实验仪
二、应用领域
可以利用光学干涉法，进行光学元件（眼镜、手机透镜、光纤连接器等）面型、瑕疵、曲率半径等参数测量，也可以用于测量材料折射率、光源波长等测量场景。
用户为光学元件生产工厂、质量检测机构、计量单位、干涉仪制造商等。
三、市场前景
在具体市场，根据FMI预计，光纤端面检测设备在2023年市场价值约10亿美元，2033元达到20亿美元。手机摄像头镜片2023年全球市场58.48亿美元。角膜接触镜2023年国内市场1000亿元。
四、知识产权
1、成果由北京理工大学单独持有；
2、已申请5项国内外发明专利保护；
3、授权5项（中国2、美国3）
五、合作方式
合作开发、技术服务和咨询、技术转让和技术许可等方式。
六、对接方式
（1）合作意向方联系北理工技术转移中心；
（2）北理工技术转移中心沟通了解意向方情况；
（3）会同成果完成团队与意向方共同研讨合作方案。
北京理工大学技术转移中心
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